光計測

光計測（1）
11月15日（火）09:00 - 12:00　E会場

[15aE1]　9:00
偏光ドップラーライダーによる火山灰の地上観測
○中野 貴敬，井之口 浜木，及川 博史
宇宙航空研究開発機構

[15aE2]　9:15
ダブルヘテロダイン円偏光干渉計による高ダイナミックレンジ膜厚測定
○若林 楓真，河合 孝太郎
神戸市立高専

[15aE3]　9:30
分光・偏光を用いた海洋生物内のマイクロプラスチック・イメージング
○遠藤 伸尭¹，ネイザン へーガン²，大谷 幸利^2
1宇都宮大学地域創生科学研究科，²宇都宮大学オプティクス教育研究センター

[15aE4]　9:45
中赤外パッシブ分光イメージングによる煤煙化した布中の染料の成分同定
○アラム エムディ マハフズル，森本 裕介，北崎 友哉，足立 悠仁，宮村 匡雅，石丸 伊知郎
香川大学創造工学部機械システム工学領域

[15aE5]　10:00
偏光変調デュアルコム分光法における円偏光スイッチングの適用性拡大
○朱 瑞宸¹，長崎 亮太¹，加藤 峰士^1,2，田 昊晨^1,3，浅原 彰文¹，美濃島 薫^1
1電通大，² JSTさきがけ，³ JSPS外国人特別研究員

[15aE6]　10:15
周波数領域光相関法と2逓倍変調を用いた光周波数コム合成信号の解析
○福士 海渡，鈴木 涼介，塩田 達俊
埼玉大学

＜10:30 - 10:45　休憩＞

[15aE7]　10:45
断層計測における光コムの逆位相制御パルスを用いた背景信号除去
○日野 圭人¹，加藤 峰士^1,2，猫島 靖久¹，美濃島 薫^1
1電通大，² JST,さきがけ

[15aE8]　11:00
チャープした光コムを用いた3次元動画計測における高精度位相制御の効果
○猫島 靖久¹，加藤 峰士^1,2，日野 圭人¹，美濃島 薫^1
1電通大，² JST さきがけ

[15aE9]　11:15
偏光制御パルス列のデュアル光コム分光を用いたジョーンズ行列測定
○北濵 弘暉¹，是澤 秀紀²，長谷 栄治³，南川 丈夫³，安井 武史^3
1徳島大院創成，²徳島大院先端技術，³徳島大pLED

[15aE10]　11:30
FSRの異なるエタロン2台を用いた低コヒーレンスコム干渉による距離計測
○関口 優紀¹，高瀬 博章²，横地 界斗²，塩田 達俊^1
1埼大理工，²ソニーセミコンダクタソリューションズ(株)

[15aE11]　11:45
光コムパルスのエンベロープと位相関係を用いた空気屈折率自己参照型補正による遠隔形状計測手法の適用性拡大
○田中 拓帆¹，阿久澤 寛陽¹，加藤 峰士^1,2，美濃島 薫^1
1電気通信大学，² JST さきがけ

光計測（2）
11月15日（火）14:15 - 15:30　E会場

10月18日プログラム変更　／　10月21日プログラム変更

[15pE5]　14:15
スーパーコンティニウム光の縦モード間ビート信号の位相解析による屈折率計測
○青山 直樹，塩田 達俊
埼大理工

[15pE6]　14:30
スペックル・シアリング干渉計による生体表面の変位分布の動的計測
○林 寧生，花山 良平，石井 勝弘
光産業創成大学院大学

[15pE7]　14:45
流れの望遠可視化計測における波面補償による空間分解能の向上
○近藤 美由紀¹，峰崎 岳夫²，水書 稔治^3
1東海大学大学院，²東京大学，³東海大学

[15pE8]　15:00
双方向動作型デュアルコムレーザーを用いた中赤外域における固体材料評価法の開発
○布川 楽士¹，李 嘉傑¹，加藤 峰士^1,2，田 昊晨^1,3，浅原 彰文¹，美濃島 薫^1
1電通大，² JSTさきがけ，³ JSPS外国人特別研究員

[15pE9]　15:15
2Dシングルショット光断層計測における振動ロバスト性向上と高感度化
○福田 渓人，塩田 達敏
埼玉大学理工学研究科

光計測（3）
11月15日（火）17:15 - 18:45　A会場

[15pA1]　17:15
系外惑星高コントラスト直接撮像のためのスペックル領域消光法に基づく干渉差分撮像法の数値シミュレーション
○西川 淳^1,2,3，米田 謙太¹，早野 裕^1,2，入部 正継⁴，山本 広大⁵，津久井 遼⁵，村上 尚史⁶，淺野 瑞基⁶，村松 大海⁷，田中 洋介⁷，東谷 千比呂¹，田村 元秀^1,3,8，住 貴宏⁹，山田 亨¹⁰，Olivier Guyon¹，Julien Lozi¹，Vincent Deo¹，Sebastien Vievard¹，Kyohoon Ahn^1
1国立天文台，²総合研究大学院大学，³アストロバイオロジーセンター，⁴大阪電気通信大学，⁵京都大学，⁶北海道大学，⁷東京農工大学，⁸東京大学，⁹大阪大学，¹⁰宇宙航空開発研究機構

[15pA2]　17:30
系外惑星高コントラスト直接撮像のためのスペックル領域消光法に基づく干渉差分撮像法の光学実証実験
○米田 謙太¹，西川 淳^1,2,3，早野 裕^1,2，入部 正継⁴，山本 広大⁵，津久井 遼⁵，村上 尚史⁶，淺野 瑞基⁶，村松 大海^1,7，田中 洋介^3,7，東谷 千比呂¹，田村 元秀^1,3,8，住 貴宏⁹，山田 亨¹⁰，オリビエ ギュヨン^1,3,11，ジュリアン ロッジ¹，ヴィンセント デオ¹，セバスチャン ヴィーヴァード¹，キョホーン アーン^1
1国立天文台， ²総合研究大学院大学，³アストロバイオロジーセンター，⁴大阪電気通信大学，⁵京都大学，⁶北海道大学，⁷東京農工大学，⁸東京大学，⁹大阪大学，¹⁰宇宙航空研究開発機構，¹¹アリゾナ大学

[15pA3]　17:45
系外惑星高コントラスト直接撮像のための位相マスクの位相差の測定
○村松 大海^1,2，西川 淳^2,3,4，村上 尚志⁵，林 寛昭⁵，米田 謙太²，淺野 瑞基⁵，田中 洋介^1,4
1東京農工大工，²国立天文台，³総研大物，⁴アストロバイオロジーセンター，⁵北大工

[15pA4]　18:00
移動縞投影法を用いたイメージファイバーによる形状計測
○奥山 源¹，茨田 大輔^1,2
1宇都宮大学大学院光工学，²宇都宮大学オプティクス教育センター

[15pA5]　18:15
マイケルソン干渉計を用いた光散乱・反射特性測定システムの動作確認－ガラス面の振幅反射率測定－
○石井 千皓¹，中川 瑞輝¹，大河 正志²，鈴木 孝昌^2
1新潟大学大学院自然科学研究科，²新潟大学工学部

[15pA6]　18:30
プローブ光と位相変調信号の強度相関を用いた段差形状計測
○出野 珠己，柏倉 直輝，熊野 堅互，田中 洋介
東京農工大学大学院電気電子工学専攻

光計測（4）
11月16日（水）13:00 - 14:15　E会場

[16pE1]　13:00
ディジタルホログラフィーを用いたシングルショット分音イメージング
○野津手 駿¹，橋本 蒼太¹，井上 智好^1,2，西尾 謙三¹，夏 鵬³，スディーシュ ケ ラジェプト⁴，的場 修⁴，粟辻 安浩^1
1京都工芸繊維大学，²日本学術振興会，³産業技術総合研究所，⁴神戸大学

[16pE2]　13:15
ガラス表面微小構造の液体による強調とディジタルホログラフィによる可視化
○野澤 航喜，小澤 祐太，早崎 芳夫
宇都宮大学

[16pE3]　13:30
2波長位相シフトバーストディジタルホログラフィの精度向上のための計測エラー改善
○小澤 祐太，早崎 芳夫
宇都宮大学オプティクス教育研究センター

[16pE4]　13:45
フーリエ解析による画素補間によるワンショット点回折干渉顕微鏡像のアーティファクト低減効果
○水谷 彰夫，宮﨑 寛隆，菊田 久雄
大阪公立大学

[16pE5]　14:00
White-light structured illumination optical coherence microscopy for resolution enhancement
○Yue Zhu
Nanjing University of Science and Technology

光計測（5）
11月16日（水）14:30 - 16:00　E会場

10月18日プログラム変更　／　10月21日プログラム変更

[16pE6]　14:30
濃い散乱体における散乱係数に現れる干渉効果のサイズパラメータ展開
○西村 吾朗，藤井 宏之，井上 優輝
北海道大学

[16pE7]　14:45
サブビンと逆行列を用いたDFTの周波数高分解能化
○中林 駿太，増田 純平，小坂 哲夫，佐藤 学
山形大学大学院

[16pE8]　15:00
Non-destructive inspection of compound semiconductors using optical coherence tomography
○Po Hao Tseng¹，Chuan Bor Chueh¹，Hao Chung Kuo²，Ting Hao Chen¹，Hsiang Chieh Lee^1
1Graduate Institute of Photonics and Optoelectronics, National Taiwan University，²Department of Photonics, National Yang Ming Chao Tung University

[16pE9]　15:15
光周波数コムとヘテロダイン検波による光ファイバーブリュアン温度計測
○小野 拓真¹，田中 洋介²，塩田 達俊^1
1埼大理工，²東京農工大

[16pE10]　15:30
光コムSD-OCTによる測定範囲拡張
○崔 森悦¹，壁谷 泰宏²，浦島 毅吏^2
1新潟大学工学部，²パナソニックホールディングス(株)

[16pE11]　15:45
透過型レーザー走査型光周波数コム顕微鏡によるマルチパラメータ評価
○梶原 新平，南川 丈夫，岡部 智也，長谷 栄治，安井 武史
徳島大学